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VCSEL老化测试方案

时间:2021-12-03 17:38

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作者:admin

导读:VCSEL老化测试方案-Vcsel失效性分析和老化对比,VCSEL失效性分析测试方案...

  Vcsel老化测试对比失效性分析

指标要求

  电压<10V,Vcsel供电电流≤500mA

  脉冲宽度=100us/300us,占空比=10%

  源、测量精度=0.1%

  通道数:40CH

  时效性分析数量:40CH

  物理尺寸:19”标准机柜6U

  支持供电脉冲电流及Vcsel两端脉冲电压实时监测

  

插卡式源表简介

  1*10卡式插卡式主机1010C + 10*单卡4通道源表子卡CBI401/402 =  40 ch

  

子卡1

  通道数量:4通道;

  Z小脉冲宽度:100us;

  脉宽可编程分辨率:20us

  过量程:105%量程,源和测量;

  稳定负载电容:<22nF;

  宽带噪声(20MHz):2mV RMS(典型值),<20mV Vp-p(典型值);

  线缆保护电压:输出阻抗10KΩ,输出电压偏移<10mV;

  Z大采样速率:1000 S/s;

  

子卡2

  通道数量:4通道;

  Z小脉冲宽度:100us;

  脉宽可编程分辨率:20us

  过量程:105%量程,源和测量;

  稳定负载电容:<22nF;

  宽带噪声(20MHz):2mV RMS(典型值),<20mV Vp-p(典型值);

  线缆保护电压:输出阻抗10KΩ,输出电压偏移<10mV;

  Z大采样速率:1000 S/s;

  质保期:1年;

  

电源和老化箱连接方案一

  

电源和老化箱连接方案二

 

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