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广立微SEMICON China 2025圆满落幕

时间:2025-04-01 10:46

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作者:admin

标签:   EDA  半导体 

导读:近日,为期三天的半导体盛会——SEMICON China 2025在上海新国际博览中心圆满落幕。广立微全面展示了其在EDA软件、测试设备及良率提升的综合创新能力,赢得了业内的高度关注与赞誉。...

近日,为期三天的半导体盛会——SEMICON China 2025在上海新国际博览中心圆满落幕。广立微全面展示了其在EDA软件、测试设备及良率提升的综合创新能力,赢得了业内的高度关注与赞誉。

全线产品亮相,覆盖半导体全生命周期

展会期间,广立微的展位以其丰富的展示内容吸引了众多行业精英和专业观众驻足。广立微的展台围绕“设计-制造-测试-分析”全流程,系统呈现了核心产品线。

EDA:DFT/DFM引领设计革新

本次展会除了成熟的测试芯片EDA及IP外,广立微自主研发的DFT(可测试性设计)与DFM(可制造性设计)软件,也获取了市场的关注。

广立微DFT软件提供可测性设计自动化与成品率诊断方案,覆盖 DFT 全流程,支持多种芯片设计与汽车电子功能安全测试。

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DFM工具则通过仿真与工艺参数优化,减少制造缺陷风险。结合测试芯片设计EDA工具,形成了覆盖设计阶段的完整解决方案。

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测试设备:高效赋能量产监控

广立微的晶圆级电性测试设备系列(T4000、T4100S及T4000Max)从研发到量产全场景覆盖,适用于研发测试、晶圆级可靠性测试、可寻址电路测试、WAT测试等多种场景,可大幅提升测试速度。测试设备已成功应用于多家头部晶圆厂产线。

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DATAEXP:AI驱动精准分析

广立微DATAEXP大数据分析平系统升级,DE-G、YMS等系统与INFINITY - AI 系统和 SemiMind 半导体大模型平台结合,为半导体产业注入 AI 活力。

广立微的INFINITY-AI系统(INF-AI)通过自动缺陷分类(ADC)和晶圆缺陷图案分析(WPA),将深度学习技术融入生产全周期。系统可实时分析海量数据,实现缺陷智能诊断与良率预测。

SemiMind半导体大模型平台,以“知识沉淀+智能体协作”为核心,构建开放研发生态。该平台支持知识复用、智能体自主构建及数据分析软件智能化升级。

展会现场,团队详细介绍了广立微AI技术的优势和应用场景,展示了其在提升生产效率和降低成本方面的巨大潜力。

在半导体市场蓬勃发展的当下,广立微将深化与产业链上下游企业的交流协作,立足良率提升领域,依托深厚的技术沉淀和行业经验,持续优化战略布局,强化自主创新。在全球半导体产业迈向高质量发展的进程中,以创新型解决方案为驱动,与客户携手,创造更卓越的成就。

关于我们

杭州广立微电子股份有限公司(股票代码:301095)是领先的集成电路EDA软件与晶圆级电性测试设备供应商,公司专注于芯片成品率提升和电性测试快速监控技术,是国内外多家大型集成电路制造与设计企业的重要合作伙伴。公司提供EDA软件、电路IP、WAT电性测试设备以及与芯片成品率提升技术相结合的整套解决方案,在集成电路设计到量产的整个产品周期内实现芯片性能、成品率、稳定性的提升,成功案例覆盖多个集成电路工艺节点。

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