手机功率放大器的功率包络跟踪

您是否听到有人抱怨每天要为4G电话充电两次？很遗憾，他对自己的手机并不太满意。

随着人们对高速数据读写的需求与日俱增，而电池的容量却无法跟上通信技术前进的步伐，这种现象一直屡见不鲜。 这并不是电池的问题，而是我们需要一种技术来使手机放大器变得更为强大。 过去普遍采用普通的DC-DC转换器来控制手机电池电量流入不同的芯片。 这包括将手机信号驱动回基站的功率放大器(PA)，对于2G和3G信号，由于峰均功率比(PAPR)相对较小，该功率放大器可以很好地工作。 但随着技术从GSM发展到GPRS、WCDMA直至HSPA，PAPR也大幅升高。 现在LTE或4G具有非常高的PAPR，极大影响了手机的耗电量。 图1显示的是基于设备电池特定功率输入的典型PA输出随技术发展的变化。

图1.不同无线标准的PAPR演示： 该图显示的是一个典型PA的电池输入功率(Pin)和输出功率之比。信号功率压缩随着不同的PA设计而异，但PAPR则保持不变。

DC-DC转换器在信号功率达到峰值时以线性方式吸收设备电池的电量，这种效率并不高。 提高电能效率的一种方式是预测手机信号的峰值，然后仅向PA提供所需的电量。这种供电方式称为功率包络跟踪(ET)。 图2显示的是ET方法。

图2. 当传输波形（以红色标示）的功率不为峰值时，ET供电方法（以蓝色标示）可减少电能的浪费。

在过去十年中，功率包络跟踪技术已经解决了基站的这一难题，不仅节省了功耗，还可防止过热，这是由于PA可以处理大约200W或更高的功率。 现在，半导体技术已经发展到一定程度，DC-DC转换器可用于移动设备，可为PA提供所需的调制功率，这种技术出现得非常及时，因为LTE等4G技术正在不断地迫使人们提高PA的效率。 现在我们如何测试这一新技术？ 以下是一个PA测试解决方案的测试流程概述。
ET测试的挑战

ET测试使得原本就非常复杂的系统变得更为复杂。 采用ET技术的第一个挑战就是生成调制的供电电源，该电源需要高达2W的功率和数十兆赫兹的带宽。 这些要求对于电源来说并不常见，因此许多PA制造商使用经改良的DC-DC转换器来执行功率调制。 这些芯片可接受直流电源、用于控制放大器增益的包络波形以及用于控制芯片的一些数字线的输入。 输出是一个高功率调制波形，用于提高待测放大器的放大功能。 详见图3了解典型的RF PA测试设置，该设置已进行扩展，可支持ET。

图3. 图为RF PA测试的典型配置，可实现包络跟踪。

从测试和特征记述的角度来看，主要的挑战在于对执行ET所必需的不同仪器进行同步。 最为重要的是，必须以最低程度的抖动同步RF信号发生器和基带任意波形发生器(AWG)。 此外，它必须能够以次纳秒的精度偏移基带包络相对于RF波形的延迟。 如果使用传统台式仪器，要实现这一程度的同步是非常困难的，而且还很有可能会涉及不同厂商的硬件，使应用软件变得更复杂。

NI简化了同步问题，并将软硬件集成到一个平台上，从而尽可能地使该流程变得简单明了。 PXI背板（见 图4）可用于路由机箱内实现同步所需的所有时钟和触发线，因而无需外部时钟和触发来路由网络。 为了实现次纳秒级的同步和可重复性，采用NI-TCLK来协调多个模块化仪器间的时钟和触发分布。 如需详细了解NI-TClk如何以低达20psrms的抖动来同步多个仪器，请阅读NI T-Clock技术用于模块化仪器定时和同步。

图4. 图为PXI Express背板以及时钟和触发原理图。

最后, NI的各种模块化仪器产品可用作为具有ET功能的RF PA测试设置的每一个组件。 您也可将完整的PA测试系统集成到一个PXI机箱和统一的硬件驱动API集合，这可极大简化系统的集成和测试开发。
1. NI测试解决方案
硬件设置

如果要对标准PA测试解决方案进行改良以适应ET测试，必须在系统中添加AWG（见图3）。 AWG必须能够驱动单端和差分负载，应用常见模式和微分直流偏移、可变增益设置以及灵活的时钟选项。 NI PXIe-5451是一款可满足所有这些需求的400 MS/s双通道AWG。 它还包含许多板载信号处理函数，其中包括用于脉冲整形和插值的脉冲响应(FIR)滤波、平坦度校正以及可减少软件预处理的数字上变频器。了解更多关于NI PXIe-5451的信息。