无外部高速时钟时HSE_RDY被意外置位问题

前言

问题由客户提出，用户发现在STM32F103器件上。用户在产品中使能了IWDG，在使用过程中发现当MCU被复位后，有时程序跑不下去；跟踪代码发现程序死在轮询PLL_RDY处。用户反馈说用的就是ST库中的范例代码，怀疑STM32F103有设计问题 。

调研

排查硬件供电无问题，用示波器测量NRST发现复位信号正常，用STM32CubeMX生成最小系统代码（时钟配置+IWDG）反复验证，未发现此问题，开始怀疑用户代码。

客户声称开发是基于ST提供的SPL库中自带的demo，使用SPL中的范例代码加上IWDG复位，确实可以复现此问题：通过调试器跟踪代码发现问题发生时HSE_RDY位被异常置位（用户平台无外挂高速时钟源）。

通过分析代码，发现SPL库【标准外设固件库】在配置时钟时先会直接使能HSE，并对HSE_RDY位进行检测。在复位MCU若干次后HSE_RDY可能位会被置位，从而导致时钟配置程序按照基于HSE的状态来进行接下来的配置。而SPL中的demo是跑在STM32F1评估板上，而评估板外带高速时钟源，故没有此问题。

结论

在MCU复位后，HSE_ON虽默认无效，但反复对其进行使能操作会导致MCU内部的噪声积累，造成时钟检测电路误判，并从寄存器反映出来。

- 对STM32F103来说，一旦HSE_RDY被置位，只要不断电，无论怎样复位MCU,HSE_RDY都不会被清除（即使失能HSE_ON） 。

- 对STM32F030单片机进行类似操作，也会发现同样问题。不同之处在于在HSE_RDY被置位后复位MCU，HSE_RDY位会被清除，但是一旦HSE_ON被置位，HSE_RDY同样可能会出现被置位问题 。

处理

由于用户不使用外部HSE,即并不需要对是否有外接高速晶振进行判断，故修改用户代码不再使能HSE。反复测试后问题不复现 。

建议

1 、要了解HSE_RDY位是用来检测是否有外部时钟存在的必要条件，而非充分条件。

2、使用STM32时，尽量按照实际设计对软件做出相应修改，切勿图省事而带来问题。