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2.5次元影像测量仪的检测原理

时间:2023-09-01 15:37

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作者:admin

标签: 检测  影像仪  测量仪  仪器 

导读:2.5次元影像测量仪的基本检测原理在实际测量中,对于同一被测量往往可以采用多种测量方法。为减小测量不确定度,应尽可能遵守以下基本检测原理:1、阿贝原则:要求在测量过程中被...

2.5次元影像测量仪的基本检测原理在实际测量中,对于同一被测量往往可以采用多种测量方法。为减小测量不确定度,应尽可能遵守以下基本检测原理:
1、阿贝原则:要求在测量过程中被测长度与基准长度应安置在同一直线上的原则。若被测长度与基准长度并排放置,在测量比技过得中由于制造误差的存在,移动方向的偏移,两长度之间出现夹角而产生较大的误差。误差的大小除与两长度之间夹角大小有关外,还与其之间距离大小有关,距离越大,误差也越大,

wKgZomSH6FOAAYDRAAHsGXS6LUk239.png2.5次元影像测量仪


2、基准统一原则:测量基准要与加工基准和使用基准统一。即工序测量应以工艺基准作为测量基准,终检测量应以设计基准作为测量基准最短链原则在接测量中,与被测量具有函数关系的其它量与被测量形成测量链。

形成测量能的环节越多,被测量的不确定度越大,因此,应尽可的的制少测量链的环节数,以保证测量精度,称之为最短链原则,当然,按此原则景好不采用间接测量,而采用直接测量,所以,只有在不可能采用直接测量,或直接测量的精度不能保证时 才采用间接测应该以景少教目的量块组成所需尺寸的量块组,就是最短链原则的一种实际应用。

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