教你怎么使用R&S的网分，去嵌探针测试影响

探针去嵌准备工作

1：一台R&S 网络分析仪

2：高频探针

3：高频探针出厂S参数

"去嵌"是一种高频测试中常用的技术，旨在消除测量中探针或连接线等外部元件的影响，以便更准确地测量被测试器件的性能。下面是进行"去嵌"的基本步骤：

获取S参数：首先，需要获取探针的S参数。这些S参数描述了探针在不同频率下的传输特性，包括反射系数和传输损耗等。

测量被测试器件：使用探针对被测试器件进行测量。这些测量结果会包含探针和被测试器件的组合效果，无法准确反映出被测试器件的真实性能。

应用S参数：将探针的S参数应用于测量数据。通过将探针的影响从测量数据中去除，可以得到被测试器件在没有探针影响的情况下的性能。

分析结果：分析去嵌后的测量数据，这将提供更准确、更可靠的关于被测试器件本身特性的信息。

以下为去嵌过程实际操作

使用R&S 网络分析仪导入探针测得的S参数

GSG探针去嵌过程

步骤1：

点击Offset Embed进入去嵌模块

步骤2：

选择单端探针模块（根据所需去嵌的探针规格进行选择）

步骤3：

先导入Port1端口

步骤4：

选择探针本身的S参数数据（以GSG-600um探针为例），后缀-1探针文件

步骤5：

**Port1完成后，选择Port2端口**

步骤6：

**选择探针本身的S参数数据（以GSG-600um探针为例），选择后缀-2探针文件**

步骤7：

以上操作都已完成后，勾选激活，即可显示去嵌后的探针参数

步骤8：

去嵌完成，插损全部归零，基本都在0.1dB范围内

步骤9：

探针插损，去嵌后与去嵌前的数据对比，插损基本都已归零

步骤10：

探针回损，去嵌后与去嵌前对比，回损与之前几乎保持一致

结论

采用探针去嵌技术，能够显著提升高频测试的准确性和便捷性。我们的方法十分简便，只需在出厂时获得的探针S参数的支持下，即可进行操作。

通过先对探针进行校准，获取其S参数，我们能够深入了解探针在测试中的影响。这些S参数涵盖了探针的传输特性，包括损耗和反射等信息。将这些参数应用于实际测量数据中，可以消除探针带来的误差，确保我们测量的是被测试器件的真实性能。

我们的方法不仅节省时间，还大大提高了测试的精确性。无论是射频电路还是微波器件，都能从中受益。

审核编辑：刘清