使用HDS-35屏蔽效能测试系统对铜箔屏蔽材料的屏

1.目标

本次测试的目的是为了演示HDS-35屏蔽效能测试系统是如何用于测量铜箔屏蔽材料的屏蔽效能值。

2.测量设置

HDS-35屏蔽效能测试系统具有3.6GHz频率的屏蔽效能测试，配合我司的频谱分析仪，非常适合做平面材料的电磁屏蔽效能测量，如下图所示：

HDS-35屏蔽效能测试系统由屏蔽效能测试装置、屏蔽分析仪、自动测试软件一起组成，如上图。

3.开始测量

打开自动测试软件和频谱分析仪，自动测试软件与频谱分析仪通过USB电缆线连接，在软件中找到频谱分析仪即可，连接方式如下图所示：

使用HDS-35屏蔽效能测试系统做屏蔽效能测试前，先要将频谱分析仪和我们的屏蔽效能测试装置进行校准，校准后的数据如下图所示：

做好校准后，把铜箔材料放到屏蔽效能测试装置中，点击自动测试软件中的开始测试即可对铜箔屏蔽材料进行测试了。测试的数据如下图所示：

4.结论：

HDS-35屏蔽效能测试系统非常适合从1M-3.6GHz频率的平面材料的屏蔽效能测试，能非常真实的反映平面材料的屏蔽效能值。此外，我们还可以定制8GHz的屏蔽效能测试系统，以适合更高频率的屏蔽效能测试。