昊衡科技-推出分体式光矢量分析系统（OCI-V）

继OFDR设备推出分体式后，光矢量分析系统（OCI-V）也推出了外置激光器测试的分体式设备。

所谓分体式设备，就是采用外置激光器与设备Laser端连接，实现分体式测量。外置激光器也可单独作为光源，用于其他光学测试，分体式光矢量分析系统（OCI-V），型号有C+L波段的OCI-V1502，O波段的OCI-V1302。

图1.分体式设备OCI-V1502

分体式OCI-V的功能与标准OCI-V并没有什么不同，依旧用于无源器件的相关测试，主要测试参数有：偏振相关损耗（PDL）、偏振模色散（PMD）、插损（IL）、色散（CD）、群延时（GD）等，能精细测量不同波长下的各参数。

HCN气室会对固定波长的光进行吸收造成损耗，OCI-V1502测量不同波段的光通过HCN气室后的损耗情况。

图2.HCN气体吸收室

保偏光纤快轴折射率小、光传输速度快，慢轴折射率大、光传输速度慢。OCI-V1502精确测量PMD对于评估光纤制备、光器件制造及光通信链路非常有意义。

图3.测量保偏光纤快慢轴PMD

分体式光矢量分析系统（OCI-V），激光器可由我司提供，推荐选型有Santec-TSL-550/570，也可使用客户自己的激光器，客户只需将激光器邮寄我司调试，我们会根据调试情况告知客户，该激光器能否搭配设备使用以及各项参数性能情况。 分体式光矢量分析系统是昊衡科技努力专研技术的成果，也是昊衡科技用心对待客户，吸纳客户意见，秉承客户至上的结果。我们也会一直秉持“技术感知世界”的使命，继续专注于先进光学测量与传感技术，砥砺前行，致力为广大客户提供更加精良的产品和更加完善的应用解决方案，为实现“中国智造”贡献一份力量。