光谱共焦传感器应用方案-双光谱对射测厚系统

在现代工业生产中，精确测量各种工件的特征尺寸至关重要。光谱共焦传感器以其独特的原理和出色的性能，为解决这一需求提供了有效的解决方案，特别是在双光谱对射测厚方面表现突出。

光谱共焦传感器原理

光谱共焦传感器利用光学色散原理，通过宽光谱光源（如白光 LED）发射出的复色光，经过色散物镜后，不同波长的光聚焦在不同的位置上。只有聚焦在待测物体表面的波长光线能够通过检测孔并被光谱仪检测到，从而提取峰值波长，实现对物体表面特征尺寸的精确测量。

适用的工件形貌和测量参数

光谱共焦传感器适用于各种复杂的工件形貌，包括深孔、斜面和弧面等。它能够准确测量多种特征尺寸，如高度、段差、厚度、平面度和轮廓度等，为工业生产中的质量控制和工艺优化提供了关键的数据支持。

双光谱对射测厚系统的优势

在测量不透明物体的厚度时，单光谱共焦传感器往往无法胜任。而普密斯双光谱对射测厚系统则巧妙地解决了这一难题。该系统通过两个光谱共焦传感器对射的方式，能够有效地穿透不透明物体，实现对其厚度的精确测量。这种创新的设计大大拓展了光谱共焦传感器的应用范围，使其能够满足更多工业测量场景的需求。

普密斯双光谱对射测厚系统在众多领域具有广泛的应用前景，如汽车制造、机械加工、电子行业等。它可以帮助企业提高生产效率，降低废品率，提升产品质量和市场竞争力。