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低热量化学气相工艺制备氮化硅

时间:2009-06-12 21:08

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作者:admin

标签: 热量 

导读:低热量化学气相工艺制备氮化硅-低热量化学气相工艺制备氮化硅美国Aviza工艺公司开发出一种低温化学气相沉积工艺(LPCVD),可在500℃左右进行氮化硅沉积。这个工艺使用一...

低热量化学气相工艺制备氮化硅
美国Aviza工艺公司开发出一种低温化学气相沉积工艺(LPCVD),可在500℃左右进行
氮化硅沉积。这个工艺使用一种特有的前驱物,它可使SiN薄膜避免氯或碳的污染,还不致
产生等离子体划痕。Air Liqcade公司可提供这种前驱物,它与Aviza公司共同开发这一工艺。
这一工艺的优点有:化学试剂消耗少,因而成本低,可进行交叉流动,装炉量随意,最
多可装50片。
LPCVD的工作温度低于500~C,这是一项技术突破,因为现代先进的电子器件的直径小
于90rim,因而对低热量有严格要求。

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