赛普拉斯智能照明解决方案现可为Cree XLamp LED提

为了推动射频微波测试与测量技术的发展，适应客户的测试应用需求变化，使优秀的测试测量产品充分结合并服务于用户的实际使用，R&S公司特举办2009年射频微波测量仪器应用有奖征文竞赛，旨在为广大行业用户搭建一个沟通与交流的平台，分享和传播知识经验。

本次征文面向中国大陆从事电子测量及相关行业从业人员。但是不包括R&S员工及其亲属，也不包括R&S的供应商和渠道伙伴。征文时间从2009年1 月 12 日至2009年5月31日，2009年 6月底公布评选结果。颁奖仪式具体时间及地点另行通知。

本次征文范围广泛，用户可结合R&S射频微波仪器的实际应用情况，在各个领域，例如但不限于电子设计应用、信号产生以及侦测和分析、器件和材料的测量、仪器计量技术、基于仪器远程控制的软件开发等撰写案例。征文可涉及的R&S射频微波仪器主要有：函数/任意波形发生器、信号源、衰落模拟器、频谱分析仪、信号分析仪、相位噪声分析仪、噪声系数分析仪、测量接收机、矢量网络分析仪、功率计等。

R&S公司将邀请行业专家共同参与稿件评选，获奖者将得到获奖证书以及奖品。同时，获奖稿件将择优在专业期刊上刊发。

本次征文奖项为：一等奖 1 名；奖励价值6000元的奖品

二等奖 3 名；奖励价值4000

元的奖品 三等奖若干名：奖励价值1000元的奖品。

本次活动不收取参赛者任何费用。如果您对本次有奖征文活动有任何问题，请联系800-810-8228，或者E-mail: VAS.China@rohde-schwarz.com。