时间:2006-05-07 13:29
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作者:admin
表1. MAX2640性能概述
| Parameter | Customer Target | MAX2640 |
| ICC (mA) | < 2 | 3.5 |
| Gain (dB) | > 13 | 17.4 |
| Noise Figure (dB) | < 2 | 1.4 |
| Input P1dB (dBm) | Not specified | -26 |
| Input IP3 (dBm) | -10 | -17.25 |
| S11 (dB) | Not specified | -10.5 |
| S22 (dB) | Not specified | -19.3 |
图1. MAX2640 LNA应用于315MHz时的频率特性
测试结果
图3至图8曲线标注定义如下:
图4. 仿真和性能测试S11 (相位)的比较
图5. 仿真和性能测试S22 (dB)的比较
图6. 仿真和性能测试S22 (相位)的比较
图7. 仿真和性能测试S21 (dB)的比较
图8. 仿真和性能测试S21 (相位)的比较
上述数据表明所进行的两个测试中,幅值和相位性能都非常接近。除去微小的频率偏移,仿真结果(利用不带匹配元件的IC的测试S参数建立模型,并在ADS模型中加入匹配元件后对模拟工作台进行仿真测量)非常接近于实际性能测试(在评估板上加入匹配元件后,对实际性能进行测试)。所以可以得到这样的结论:对MAX2640进行测量所得的S参数是可靠的,可用于仿真和稳定性分析。
注:评估板上加入匹配元件后进行测试时,不能测试参数S12。因为信号的幅值很低,导致网络分析仪不能精确测量。所以上面的图表中没有S12的幅值和相位曲线。
第一个测试实例
我们将去耦电容放置在了距离MAX2640的VCC引脚9mm远处。传输线宽度是42mil。这是一个具有50受控阻抗的四层电路板,介质材料是FR4,1oz覆铜,介电常数约为4.5。顶层和内部地层(第二层)之间的介质厚度是24mil。利用这些信息可以仿真得到VCC引脚处的电感值,在315MHz时仿真结果大约为j5.5,相当于2.5nH电感。图9显示了只针对IC进行的稳定性测试、稳定系数、源端稳定系数和负载端稳定系数。图10是源端稳定性圆图和负载端稳定性圆图。
图9. 第一个测试实例的稳定性测试、稳定系数、源端稳定系数和负载端稳定系数
图10. 第一个测试实例的源端稳定性圆图和负载端稳定性圆图
第二个测试实例
在该实例中,电容尽可能靠近VCC引脚放置。此时,传输线的宽度是40mil,315MHz时感应系数值大约为j0.6,相当于0.3nH电感。下图11显示了稳定性测试、稳定系数、源端稳定系数和负载端稳定系数。图12表示的是源端稳定性圆图和负载端稳定性圆图。
图11. 第二个测试实例的稳定性测试、稳定系数、源端稳定系数和负载端稳定系数
图12. 第二个测试实例的源端稳定性圆图和负载端稳定性圆图
第三个测试实例
现在我们将去耦电容放置在相距MAX2640的VCC引脚5mm远处。传输线宽度是42mil,315MHz时大约为j3,相当于1.5nH电感。图13显示了只针对IC进行的稳定性测试、稳定系数、源端稳定系数和负载端稳定系数。
图13. 第三个测试实例的稳定性测试、稳定系数、源端稳定系数和负载端稳定系数
由图13可知,在整个测试频率范围内,三个测试实例的稳定性系数均大于1。符合无条件稳定要求。而且,稳定性圆图在整个测试频率范围内也都在史密斯圆图的外部。
第一个测试实例的数据表明,在2.5GHz到4.5GHz的频率范围内,稳定性系数绝对大于1,但是在5GHz时接近于1。这表明MAX2640在5GHz以上时是有条件地稳定的。但是第二个测试实例的稳定性系数却是在2.5GHz到4.5GHz的频率范围内接近于1,而在5GHz时绝对大于1。这意味着该测试条件下的MAX2640器件在2.5GHz到4.5GHz的频率范围内是有条件稳定的。在第三个测试实例中,我们将电容放置在了与VCC引脚相距5mm远处。所测得的稳定性系数在2.5GHz到4.5GHz的频率范围内绝对大于1,在5GHz时也比1大很多。
通过以上分析,我们可以得出结论:为了保证器件的稳定性,去耦电容的最佳放置位置是距VCC引脚4mm到5mm处。
图14. MAX2640工作在315MHz时的评估板原理图
MAX2640 低噪声放大器(LNA)的材料清单
| DESIGNATION | QTY | DESCRIPTION |
| Z1 | 1 | 100nH inductor (0603) Coilcraft 0603CS-R10XJBC |
| C1 | 1 | 1500pF ceramic cap (0603) Murata GRM188R71H152KA01B |
| C2 | 1 | 150pF 5% ceramic cap (0603) MurataGRM1885C1H151JA01 |
| C3 | 1 | 10µF ceramic cap (1206) AVX TAJA106D010R |
| C4 | 1 | 470pF 5% ceramic cap (0805) Murata GRM40COG471J50V |
| C5 | 1 | 2.2pF 5% ceramic cap (0805) Murata GRM40COG022D50V |
| C6 | 1 | 5pF 5% ceramic cap (0805) Murata GRM40COG050D50V |
下面是低噪声放大器(LNA)增益和三阶输入交调截取点(IIP3)的测量环境的建立(见图16)。
图17. 噪声系数测量装置
附录:ADS仿真原理图
图18. ADS仿真