法国Phasics公司高精度红外/近红外波前传感器取得

法国Phasics成立于2003年，提供最先进的光学计量和成像解决方案。PHASICS公司波前传感器采用其获得专利的四波横向剪切干涉测量术(QWLSI)。这项技术克服Shack-Hartmann传感器的局限性，从而可以获得超高分辨率、高灵敏度(亚纳米)和宽动态范围。

近期法国PHASICS公司从法国商务部获悉，公司提交申请的高精度红外（3-5um &8-14um）/近红外（900-1700nm）波前传感器出口豁免申请已获得通过。这就意味着客户采购SID4-DWIR红外（3-5um &8-14um）和SID4-SWIR近红外（900-1700nm）波前传感器时无需再提供最终用户备案。

下面我们将为大家详细的介绍下这几款波前分析仪：

1.SID4-SWIR近红外（900-1700nm）波前传感器

图1SID4-SWIR波前分析仪

SID4-SWIR近红外（900-1700nm）波前传感器产品特点：

高相位分辨率：160x128 or 80x64

高重复度：<2nm RMS

高测量精度：15nm RMS

工作波段：900-1700nm

高灵敏度：可适用于低功率红外光源测试

瞬时相位测量，对振动不敏感

可接受非准直光入射，光路搭建简易快捷

2.SID4-DWIR红外（3-5um & 8-14um）波前分析仪

图2 SID4-DWIR波前分析仪

SID4-DWIR红外（3-5um & 8-14um）波前分析仪产品特点：

宽工作波段：3-5um & 8-14um

高相位分辨率：160x120

高重复度：25nm RMS

高测量精度：75nm RMS

对振动不敏感

可接受非准直光入射，光路搭建简易快捷

3.近红外 or红外光学元器件面型、透射波前、MTF测试系统

图3 KaleoKit红外测试模组

近红外 or 红外光学元器件面型、透射波前、MTF测试系统产品特点：

多波长：266nm, 355nm, 405nm，550nm, 625nm, 780nm, 940nm, 1050 nm，1.55um, 2.0um, 3.39um, 10.6um

大口径：Up to 5.1”(130mm)

高重复度精度：<0.7nm RMS

高测量精度：80nm PV

对震动不敏感

测试案例：

图4 非球面测试结果
图5 平面测试结果


图6 镜头透射波前测试结果

图7 镜头MTF测试结果