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台积电如何为 HPC 与 AI 时代的 2.5D/3D 先进封装重

时间:2026-03-18 11:56

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作者:admin

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导读:随着半导体封装不断迈向 2.5D、3D 堆叠以及异构集成,热管理已成为影响性能、可靠性与量 产能力的关键因素之一。面向高性能计算(HPC)和人工智能(AI)的芯片功率密度持续提升,...

随着半导体封装不断迈向 2.5D、3D 堆叠以及异构集成,热管理已成为影响性能、可靠性与量 产能力的关键因素之一。面向高性能计算(HPC)和人工智能AI)的芯片功率密度持续提升, 封装尺寸不断扩大,材料体系也愈发复杂。在此背景下,台积电近期公开的多项专利勾勒出一 条清晰的技术路径:一方面重构 3DIC 封装结构,打造更高效且稳定的散热通道;另一方面将 热界面材料(TIM)从“填充层”升级为系统级设计单元,通过材料配方、分区布局与微结构 优化,实现热与应力的协同管理。

1. 热界面材料(TIM):从配角到核心角色
在先进封装体系中,TIM 是将热量从芯片传导至盖板和散热器的关键媒介。如今,它已不再只 是简单的导热填充物,而是同时承担热设计与机械调控功能的重要结构层。其表现直接影响封 装翘曲、界面分层、金属间化合物生成、共面性以及长期可靠性。

从单层 TIM 到分区、多 TIM 架构

在大型高端封装中,芯片、基板、模封材料和盖板之间存在明显的热膨胀系数差异。热循环过 程中,这种差异不可避免地导致封装翘曲,而应力往往集中在 TIM 层的边角或附着力较弱的 区域,增加开裂和分层风险。随着封装尺寸和功率密度持续攀升,热—机械耦合问题已成为影 响良率与寿命的核心挑战。

为此,台积电提出将传统连续单层 TIM 拆分为多个功能区,或在 TIM 中设计沟槽结构,使应 力能够在局部释放,而不是在整个界面扩散。例如在专利申请 US20220359339 中,通过分段 式 TIM 设计,有效降低了应力累积和分层风险。

此外,在同一封装内部采用不同性能的 TIM 材料也成为关键策略:高功耗芯片上方配置高导 热 TIM,而外围区域则采用更厚或更具弹性的材料,以吸收翘曲应变、减缓界面应力。相关思 路见于专利 US11088109 及 US20220359339。其核心理念在于,通过空间分区设计,在热 性能与机械可靠性之间实现协同优化,而非简单权衡。

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复合材料与石墨 TIM:材料与结构协同优化

在高强度热循环环境下,仅靠单一材料已难以满足可靠性要求。台积电在专利 US11107747 中提出复合型 TIM:在高导热金属基体中嵌入金属镀层聚合物颗粒,在保持导热性能的同时引 入弹性缓冲能力,从而减轻应力集中、改善厚度均匀性并降低芯片开裂风险。

对于石墨基 TIM——虽然具有优异的面内导热能力,但脆性高、附着性不足——台积电通过 设 置 间 隔 框 架 结 构 , 对 石 墨 层 进 行 机 械 隔 离 与 压 缩 控 制 , 以 提 升 界 面 稳 定 性 (US20250309071)。

在金属 TIM 方面,为抑制金属间化合物增长和 Kirkendall 空洞带来的长期可靠性问题,台积 电采用晶向工程技术:利用高度织构化的 Cu(111) 扩散阻挡层减少原子互扩散,同时保持良好 导热性能(US20250118615);在无盖或环形 CoW 架构中,通过直接金属键合方式避免回 流焊过程中的再熔风险(US20250349654)。这些技术表明,TIM 的可靠性来源于材料、微 结构与界面工程的整体优化。

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2. 重新构建 3DIC 与异构封装中的热路径

在 3D 堆叠封装中,内部芯片往往被底部填充材料和模封材料包围,热量容易滞留,从而形成 热点并加剧层间热串扰。

针对这一问题,台积电将 TIM 从传统的平面界面转化为三维热网络的重要组成部分:
• 通 过高 导热盖 板与 精准 控制 的 TIM 点胶工 艺, 建立更 直接 的垂 直散 热路 径 (US11482465);
• 借助多 TIM 分区及定向散热结构,为高功耗芯片优先构建散热通道,同时减少对低功 耗区域的冗余金属化(US20240363474);
• 在芯片或盖板表面引入微通道或腔体,并填充 TIM,增加接触面积,从而提升局部热 点散热效率(CN121096975)。

这些方案的共同特点是:热界面不再是单一平面,而是根据芯片功耗分布进行定制化设计,形 成针对特定芯片的垂直散热路径。

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台积电在 3DIC 封装中的热管理理念,本质上是一种热与机械协同工程方法。随着集成密度提 升,热流密度增加的同时,材料间热膨胀差异也放大了应力问题,可能引发热点、翘曲以及 “未键合”等电气缺陷,进而影响可靠性。

相关专利展示了多种互补技术手段:
1. 具 备 导 热 与 应 力 调 节 功 能 的 间 隙 填 充 结 构 , 用 于 降 低 翘 曲 并 改 善 热 路 径 (US12249566);
2. 覆盖芯片的支撑基板结构,同时充当机械加固层与热传导通道,并可结合虚拟芯片或 材料搭配实现应力平衡(US20250266318);
3. 采用减薄载体芯片与对齐虚拟焊盘的顶部散热架构,使热量通过前端互连向上传导 (US20250300149)。

同时,台积电还提出相配套的制造流程优化方案,如载体与去键合层设计、受控堆叠与释放顺 序等,以提升大规模制造中的对准精度和结构稳定性(US20250167060)。

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结语

总体而言,台积电通过 3DIC 架构创新与 TIM 工程化设计两大核心方向,将热管理从“被动应 对”转变为“主动设计”,在热性能、可制造性与长期可靠性之间实现平衡。

值得注意的是,随着 AI 与 HPC 系统对带宽需求的进一步提升,先进封装技术正与高速光互连 深度融合。尤其是在共封装光学(Co-Packaged Optics, CPO)快速发展的背景下,光电集成、 封装架构与热管理之间的耦合关系愈发紧密。更高的功率密度与更复杂的系统结构,使热设计 成为决定系统上限的关键变量。

在这一技术交汇点上,全球领先的专利分析与技术情报服务机构 KnowMade 正式发布最新研 究报告《共封装光学(Co-Packaged Optics)与光互连专利全景报告 2026》。该报告系统梳理全球 CPO 与光互连领域的专利布局、核心技术路径及主要竞争主体,深入分析先进封装与 光电融合趋势下的创新动态,为半导体、数据中心及系统厂商提供关键战略参考。 在算力持续攀升与架构持续演进的时代背景下,热管理已不再只是技术细节,而是支撑下一代 AI 与 HPC 系统扩展能力的核心基础设施。

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