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如何在Zemax中载入热和结构变形数据?

时间:2023-08-09 10:49

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作者:admin

标签: STAR  半导体 

导读:Zemax的STAR模块能够将FEA数据包的热和结构变形数据直接导入到Zemax中,以分析对光学系统性能的影响。...

Zemax的STAR模块能够将FEA数据包的热和结构变形数据直接导入到Zemax中,以分析对光学系统性能的影响。

本文通过案例介绍如何在Zemax中载入热和结构变形数据,以及载入FEA数据后如何分析查看光学性能的变化。

加载FEA数据

如下图所示打开Wavefront Map分析视图,显示伪彩色图并将采样升高到128*128,

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打开表面矢高视图,并设置显示表面5(mirror)的伪彩色图,升高采样到129 x 129

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加载FEA有限元分析数据到文件中:

•在“Load FEA Data”窗口中,单击Load FEA,然后将显示文件资源管理器窗口。

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•导航到附件FEA数据所在位置,选择Beam Steering FEA Data文件夹下的所有文件,然后单击Open。

如下图所示STAR模块将自动根据文件结构对温度曲线和面变形文件进行分类。

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•在下拉菜单中选择每个FEA数据集的指定面。

调整FEA数据

默认情况下,STAR模块使用全局坐标系匹配全局坐标参考面。

在本例中,FEA数据保存到了与OpticStudio中的全局坐标参考面匹配的全局坐标系中(面2)。

•在“变换”部分,确认Structural和Thermal数据的坐标系是全局坐标,FEA数据点的位置会与光学表面对齐。

•确认FEA数据集全部对齐后,单击OK(Fit FEA Data)。载入FEA数据集后,“载入FEA数据”窗口将会关闭。

•更新所有窗口并查看FEA数据集对不同分析的影响。

加载FEA数据后当前系统的波前图和矢高如下图所示:

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通过对比之前的视图可知,FEA数据已经加载进当前的设计文件中,并且可以使用OpticStudio序列模式中的分析工具对FEA数据对系统引入的误差进行分析。

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审核编辑:刘清

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