MCU芯片的Memory Bist设计实战(一）

SRAM的MBIST测试结构如下：

SRAM的MBIST测试波形：

SRAM BIST电路完成插入后，需要做一个formal check，保证Mbist插入后，logic function不发生错误改变。Formal check需要注意常量设置，具体参见知识星球的详细解释。

此处分享2个经典问题：

定位1：

通过trace TDO信号，一直追踪到SRAM的Q端，发现Q端数据输出是X态，通过分析发现本质上还是时钟问题，什么问题呢？

就是SRAM MBIST_CLK延时下来刚好和SRAM测试地址TADDR的跳变完全对齐了，造成了SRAM的memory model的建立/保持时间违例，SRAM model在timing违例情况下Q端输出为X态。下文具体内容请移步知识星球查看。

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审核编辑 ：李倩