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二极管产生反向恢复过程的原因

时间:2023-11-01 16:56

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作者:admin

标签: 电压  电荷 

导读:由于二极管外加正向电压时,载流子不断扩散而存储了大量的电荷,因此导致了反向恢复存在一个过程。 当外加正向电压时,P区的空穴向N区扩散,N区的电子向P区扩散。这样,不...

由于二极管外加正向电压时,载流子不断扩散而存储了大量的电荷,因此导致了反向恢复存在一个过程。

当外加正向电压时,P区的空穴向N区扩散,N区的电子向P区扩散。这样,不仅使势垒区(耗尽区)变窄,而且载流子有相当数量的剩余存储,在P区内存储了电子,而在N区内存储了空穴,它们都是非平衡少数载流子,如下图4所示。

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空穴由P区扩散到N区后,并不是立即与N区中的电子复合而消失,而是在一定的扩散长度内,一边继续扩散,一边与电子复合消失。

这样就会在扩散长度的范围内存储一定数量的空穴,并形成一定空穴浓度分布,靠近结边缘的浓度最大,离结越远,浓度越小 。

正向电流越大,存储的空穴数目越多,浓度分布的梯度也越大。

电子扩散到P区的情况也类似,下图为二极管中存储电荷的分布示意图。

图片

我们把正向导通时,非平衡少数载流子积累的现象叫做电荷存储效应。

当输入电压突然由+VF 变为-VR 时,P区存储的电子和N区存储的空穴不会马上消失,而是通过以下两个途径逐渐减少:

① 在反向电场作用下,P区电子被拉回N区,N区空穴被拉回P区,形成反向漂移电流IR,如图 6所示;

图片

② 与载流子复合,在这些存储电荷消失之前,PN结仍处于正向偏置,即势垒区仍然很窄,PN结的电阻仍很小,与RL相比可以忽略。

所以此时反向电流IR ≈ VR / RL(VR 》》 VD )。

在这段期间,IR 基本上保持不变,主要由VR 和RL 所决定。

在经过时间ts 后,P区和N区所存储的电荷已显著减小,势垒区逐渐变宽,反向电流IR 逐渐减小到正常反向饱和电流的数值,经过时间tt,二极管转为截止。

所以,二极管在开关转换过程中出现的反向恢复过程,实质上由于电荷存储效应引起的,反向恢复时间就是存储电荷消失所需要的时间。

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