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汉通达携手VX Instruments针对高性能半导体的测试需

时间:2023-09-08 08:13

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作者:admin

标签: 汉通达  半导体  测试 

导读:在测控领域同样也无时无刻不在融合创新,为我们提供新的技术和最前沿的科技应用。作为老牌的测试测量贸易、集成商北京汉通...

年轻人的第一杯茅台,和中年人的第一杯咖啡,今天相逢在了酱香拿铁里。

9月4日,连锁咖啡品牌瑞幸,官宣了与贵州茅台达成战略合作的消息,双方推出联名产品“酱香拿铁”。这个出乎意料又合乎情理的联名,让瑞幸刷新了新品上市的热度值,这不仅仅是一次脑洞大开的跨界合作,也是一次首开先河的顶峰相见。

然而在测控领域同样也无时无刻不在融合创新,为我们提供新的技术和最前沿的科技应用。

作为老牌的测试测量贸易、集成商北京汉通达科技有限公司携手VX Instruments公司紧跟科技发展针对新一代碳化硅、氮化镓二极管、金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET) 或绝缘栅双极晶体管 (IGBT) 等高性能半导体的测试需求提供解决方案。 在所有可再生能源、电动汽车或工业电子驱动领域中,对性能更强的组件进行测试。

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MOSFET器件静态参数测试和动态特性测试

静态参数主要是指本身固有的,与其工作条件无关的相关参数,主要包括:门极开启电压、门极击穿电压,集电极发射极间耐压、集电极发射极间漏电流,以及以上参数的相关特性曲线的测试。

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利用PXI/PXIe带隔离功能的数字化仪和PXI/PXIe SMU模块配合HC电源设备实现IGBT半导体器件功能测试、特性曲线测试和器件on、off、standy状态性能测试。利用VX Instruments带隔离测试设备减少噪声信号干扰,可选通更小的量程范围,提高测试精度;降低系统中线缆以及分布地等带来的测试影响;提供更好的信号工模抑制比,可实现待测件任意点间的信号测量。

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